一种基于FPGA的eMMC寿命验证的方法
电子技术应用
虞亚君1，王小龙1，2，邵春伟1，2，郝国峰1，2，沈小波1，2
1.无锡华普微电子有限公司，江苏 无锡 214035；2.中科芯集成电路有限公司，江苏 无锡 214072
摘要： 为满足测试eMMC存储颗粒的长时间读写性能要求，研究了一种基于FPGA的eMMC寿命验证方法。结合eMMC工作原理和High Speed DDR（双倍率）总线模式，详细设计出验证系统的核心组成部分。硬件采用FPGA（xc7a50tfgg484-1）芯片作为主控器，4片eMMC（FEMDRW064G-88A19）芯片作为验证对象。解析eMMC初始化配置方法，设计开放式读写模块，配合eMMC监控软件控制指令，完成4片180 000次块区域的循环读写，测试结果全部通过，读写均速达到31 MB/s。
中图分类号：TN914 文献标志码：A DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.234126
中文引用格式： 虞亚君，王小龙，邵春伟，等. 一种基于FPGA的eMMC寿命验证的方法[J]. 电子技术应用，2024，50(2)：107-110.
英文引用格式： Yu Yajun，Wang Xiaolong，Shao Chunwei，et al. A method of eMMC lifetime verification based on FPGA[J]. Application of Electronic Technique，2024，50(2)：107-110.
中文引用格式： 虞亚君，王小龙，邵春伟，等. 一种基于FPGA的eMMC寿命验证的方法[J]. 电子技术应用，2024，50(2)：107-110.
英文引用格式： Yu Yajun，Wang Xiaolong，Shao Chunwei，et al. A method of eMMC lifetime verification based on FPGA[J]. Application of Electronic Technique，2024，50(2)：107-110.
A method of eMMC lifetime verification based on FPGA
Yu Yajun1，Wang Xiaolong1，2，Shao Chunwei1，2，Hao Guofeng1，2，Shen Xiaobo1，2
1.Wuxi Hope Microelectronics Co.， Ltd.， Wuxi 214035， China； 2.China Key System & Integrated Circuit Co.， Ltd.， Wuxi 214072， China
Abstract： In order to meet the requirements of testing the long-term read and write performance of eMMC storage particles, an eMMC life verification design method is studied based on FPGA. Combined with eMMC working principle and high speed DDR（double rate）bus mode, the core components of verification system are designed in detail. FPGA（xc7a50tffgg484-1）is adopted as main control chip and four pieces of eMMC（FEMDRW064G-88A19）are selected as verification objects. The initial configuration method of eMMC is analyzed, and the module of open read and write is designed. With the control commands of the eMMC monitoring software, 180 000 times of loop read and write based on the blocks is completed. All the test results are passed, and the average read/write speed can reach 31 MB/s.
Key words : eMMC；lifetime verification；high speed DDR bus；FPGA
引言
eMMC（Embedded Multi Media Card）存储颗粒以其尺寸小、速度高、易开发的特点[1]，非常适合用作嵌入式数据存储介质。用在机载记录装置时，实时记录大量飞行图像数据，待飞行结束后再将数据卸载回收，提供给相关机构进行研究。用在汽车驾驶辅助系统时，实时记录视频摄像头、激光测距器等探测的环境数据，经过控制器运算，做出行驶路径的预测与规划[2]。虽然eMMC具备坏块管理能力，但如果长时间高密度读写，会出现数据记录出错情况。在系统研发阶段，需提前验证其实际使用寿命，靠近寿损之前及时更换芯片，以确保数据记录无误。本文设计的eMMC寿命验证方法，使用FPGA作为读写eMMC的主控器，可同时验证4片eMMC寿命，硬件结构简单、通用性好、观测性强。
本文详细内容请下载：
//www.qiuzhonghe.com/resource/share/2000005865
作者信息：
虞亚君1，王小龙1，2，邵春伟1，2，郝国峰1，2，沈小波1，2
1.无锡华普微电子有限公司，江苏 无锡 214035；2.中科芯集成电路有限公司，江苏 无锡 214072
此内容为AET网站原创，未经授权禁止转载。